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更好的清晰度
高达670万像素的图像【xiàng】分辨【biàn】率提供令人满意的亮度、对比【bǐ】度【dù】、空间分辨率、景深以及灰度，向您呈现更清晰的【de】图像，并进【jìn】一步【bù】简化【huà】您的分析【xī】。
更快速的检测
高达30帧/秒【miǎo】的增强【qiáng】版实时检测技术可实现实时图像处【chù】理，快速提供最佳【jiā】图片【piàn】以最【zuì】大化【huà】处理量。
保持图像锐度
QuadraNT™ X射线管提供的高【gāo】分辨率图像在高倍放大下仍能保持无与【yǔ】伦【lún】比【bǐ】的清晰度【dù】QuadraNT™为您提供锐利清晰的【de】图像【xiàng】，特征分辨率为0.1微米时，目标功率达【dá】10瓦，或特【tè】征分【fèn】辨率为0.3微米时，目【mù】标【biāo】功率【lǜ】达20瓦。
易于使用
机壳的设计符合人体【tǐ】工程学【xué】，可优化用户与【yǔ】系统【tǒng】交互的方【fāng】式【shì】操作人员【yuán】可迅速启动和【hé】运行【háng】可直观操【cāo】作的Gensys™检测软件。
独特的集成技术
Explorer™ one 在【zài】图像链的每【měi】个步骤都具有【yǒu】专有技术【shù】，从生成和检测X射线到图像增强和测【cè】量【liàng】。每个组件都有一【yī】个目的：为电子检【jiǎn】测【cè】创建【jiàn】最【zuì】高质量的图像。
Quadra® X射线管技术
高质【zhì】量的图像【xiàng】从X射线源【yuán】开始【shǐ】。Explorer one使用QuadraNT®X射线管技术（也适用于我们的Quadra系列X 射线检【jiǎn】测工具）在每【měi】个功率级提供市场领先的图【tú】像【xiàng】质【zhì】量，而【ér】无需【xū】维护。
专门设计用于电子器件的检测
能查看小【xiǎo】至2μm的产品特性，这种高清细节的检测功能【néng】与【yǔ】只是【shì】 检测键合是否【fǒu】存在有着【zhe】很大的区别。专为Explorer one 开发的【de】AspireFP® one平板探测器经过优【yōu】 化，能在电子【zǐ】样【yàng】品【pǐn】中实现最高对比度。
显示最精细的细节
超【chāo】过30种先进的过滤器可以显示最清晰的图像并展【zhǎn】示最精细的细【xì】节，让【ràng】您【nín】更快地找到特【tè】征和缺【quē】陷。
一直朝上
绝对不会看错方向。无论您从【cóng】哪个侧面【miàn】观【guān】察，Explorer one 独特的双轴倾斜观【guān】察功能均【jun1】可使电路板【bǎn】朝上，样品肯定【dìng】不【bú】会旋转【zhuǎn】。
Jade Plus可以独特地检测您的产品品质。
内置尺【chǐ】寸【cùn】测量工具、BGA空【kōng】洞【dòng】分析、凸点直径和圆度【dù】以【yǐ】及通孔【kǒng】填充，可快速查找并表征缺陷，帮助您达到【dào】IPC-A-610和IPC-7095合规标准。
0.95μm解析度决定了是否能在无源元件中发现微裂纹。
诺信DAGE双倾【qīng】斜角探测【cè】器的独【dú】特几何结构是【shì】检测【cè】缺陷的最快路径，而这【zhè】些【xiē】缺陷仅在【zài】特定视角下【xià】才能看见。
第四代开放管技术非常适合以微米级解析度检测电子样品。
Gensys软件专为电子检测而【ér】开发，将【jiāng】全面的【de】测量工具和自动化整合到一个可以快速学会的【de】直观点击式平台中【zhōng】，因此您可以【yǐ】更快地【dì】获得【dé】最大【dà】的【de】生【shēng】产力。
QuadraGEN专为【wéi】Quadra®系列高解析度X射线检【jiǎn】测【cè】系统而设【shè】计，可提供高质量【liàng】X射线图像所需的功率和稳定【dìng】性。
高速AXI系统用于在线检测
微焦斑X射线灯管(闭管/免维护)
带线性马达驱动的多轴可编程运动系统
数字CMOS平板探测器
自动灰阶和几何校准
条形码扫描枪可用于读取序列号和检测程序切换
支持多种工业4.0标准的MES接口，实现全检测流程可追溯
符合IPC-CFX标准
灵活的AXI系统，可用于在线或离线自动化检测
微焦斑X射线灯管（闭管/免维护）
多轴可编程伺服马达传动系统
数字CMOS平板探测器
自动灰阶几何及校验
灵活配置：可提供在线Pass through模【mó】式或同【tóng】侧进出板配【pèi】置
配置条码扫描枪后可进行条码读取及机种选择
客制化的MES平台提供了完整的追踪系统接口